Qualität ist unser Maßstab
Röntgen. X-Ray. CT.

Röntgen/CT-Analyse für Leiterplatten

Zerstörungsfreie Prüfung komplexer Baugruppen

Röntgen/CT-Analyse für Leiterplatten: Mit der nanome|x durchlaufen Ihre Leiterplatten und Baugruppen ein hochauflösendes Nano-Fokus Röntgeninspektionssystem. Dadurch sind wir in der Lage, effektive und zuverlässige Lösungen für Prüfverfahren, Fehleranalysen, sowie Prozess- und Qualitätskontrollen abzubilden.Das System bietet hervorragende Leistungsparameter um eine extrem hohe Fehlererkennung und Wiederholungsgenauigkeit sicherzustellen.

Hochauflösendes 180 kV Mikro- / Nanofokus
Röntgen-Inspektionssystem mit 3D-CT-Option

Leistungsmerkmale

  • Temperaturstabilisierter DXR-Digitaldetektor mit aktiver Kühlung für hochdynamische Live-Inspektion
  • 180 kV / 20 W High-Power Mikro- / Nano-Fokus
  • Röntgenröhre mit einer Detailerkennbarkeit bis zu 0,5 µm bzw. 0,2 μm
  • Phoenix x|Act-Paket für vollautomatische CAD-basierte μAXI Programmierung und Inspektion
  • Diamond|window für bis zu doppelt so schnelle Datenerfassung im Vergleich zum Standard bei gleich hoher Bildqualität
  • 3D-CT-Scans innerhalb von nur 10 Sekunden
  • Live-Einblendung der CAD- und Inspektionsdaten

Gestochen scharfe DXR-HD Live-Bilder

Röntgen/CT-Analyse für Leiterplatten, offene Lötstelle

Flash! gefilterte Poren in einer offenen μBGA-Lötstelle: Extreme Vergrößerung durch 1.970-fachen geometrischen Zoom.

Mit dem hochdynamischen DXR-Detektor führt phoenix|x-ray einen neuen Industriestandard für effiziente Live-Inspektion ein:

  • Eine Vollbildfrequenz von 30 fps bei einer Auflösung von 1.000 x 1.000 Pixeln

  • ermöglicht eine rauscharme brillante Bildqualität

  • schnelle und detaillierte Live-Prüfung

  • Aktive Temperaturstabilisierung für präzise und zuverlässige Prüfergebnisse

  • Extrem schnelle Datenerfassung im 3D-CT-Modus

  • Leistungsstarke Fehleranalyse durch Detailerkennung bis zu 0,5 µm / 0,2 μm

Hohe Leistung mit hoher Auflösung: diamond|window

Röntgen/CT-Analyse für Leiterplatten Diamond Window

diamond|window vs. Beryllium-Fenster (re.)
Röntgenröhren-Parameter: je 130 kV, 11,4 W

Im Vergleich zu herkömmlichen Beryllium basierten Targets ermöglicht das diamond|window eine höhere Leistung bei kleinerem Brennfleck:

  • Bis zu doppelt so schnelle CT-Datenerfassung bei gleich hoher Bildqualität

  • Hohe Ausgangsleistung mit hoher Auflösung

  • Nicht-toxisches Target-Material

  •  Verbesserte Positionsstabilität des Brennpunkts bei Langzeitmessungen

  • Längere Lebensdauer des Targets aufgrund niedrigerer Verschleißrate bei

    hoher Leistungsintensität